答疑精选｜关于Microchip SST的Flash，你关心的3个问题都在这里！

在选用Flash存储器时，很多工程师都会关注产品的可靠性、寿命和使用前是否需要额外测试。本文为大家汇总了关于Microchip SST系列Flash常见的3个问题，帮助您安心选型与使用。

❶ Microchip出厂时是否100%测试所有Flash区块？我们在生产中还需要再次测试吗？

✅ 解答：Microchip在出厂前对所有NOR Flash的区块都进行了100%测试并保证无缺陷。因此，客户在生产线上无需再对芯片进行额外的可用性测试，拿来即用，完全没有后顾之忧。

❷ 在使用过程中，是否需要像NAND Flash那样进行坏块管理？

✅ 解答：不需要！Microchip的NOR Flash在规定的擦写次数范围内(如100,000次)不会出现磨损性坏块。与NAND Flash相比，NOR Flash本身就具有极高的可靠性，因此完全无需进行复杂的坏块管理。

❸ 数据手册中提到100,000次擦写寿命仅在初始认证或有设计变更时测量，这是否意味着如果没有变更但出现质量问题，芯片就不一定能达到寿命？

✅ 解答：Microchip承诺其NOR Flash产品在正常使用情况下可承受100,000次的程序/擦除循环，完全满足数据手册中的耐久性规格。即使未进行变更，也不会因质量问题而低于标准寿命。

Microchip的NOR Flash存储器具有高可靠性，出厂时已100%测试合格，使用时无需坏块管理，并能确保达到标称的耐久性周期。

🔹 适用于高可靠性场景

🔹 无需额外测试或管理

🔹 长期稳定运行

📞如需了解更多NOR Flash选型或现货供应情况，欢迎联系宝星微科技，我们将为您提供专业的技术支持与优质原装芯片！

邮箱｜baoxingwei@sst-ic.com

官方网站｜https://www.sst-ic.com